Skyray Instrument Spektrometry XRF pomiarowe i analityczne, Power Optimizer,
Strona główna
POWER OPTIMIZER Ekonomizer zuzycia energii elektrycznej
Wyposażenie testowe galwanizernii, KOCOUR
SKYRAY Instrument, Przemysłowe spektrometry analityczne XRF - spektrometry fluorescencji rentgenowskiej
Dostawy blachy i paneli dla przemysłu
Kontakt
Przemysłowe urządzenia pomiarowe
Płać mniej za energię elektryczną, Spektrometry XRF Skyray Instrument
Skyray Instrument - Spektrometry XRF - Spektrometry fluorescencji rentgenowskiej - do analizy pierwiastkowej - zastosowania
Materiały eksploatacyjne XRF - kubki
Materiały eksploatacyjne - folie uszczelniające
EDX 600 - Spektrometr do do pomiarów grubości prostych powłok i podręcznej analizy złota
EDX 3000 - Spektrometr do pomiarów grubości powłok i analizy metali szlachetnych
Thick 800 - Grubościomierz powłok galwaniczntch
EDX 3600B - Spektrometr XRF do analizy minerłów, cementu, stopów, szlaki, RoHS itp.
EDX 6000B - Spektrometr XRF do szybkiej analizy cementu, minerałów, rud metali, stopów metali i RoHS
EDX 1800B – Uniwersalny spektrometr EDXRF do oznaczania RoHS
EDX Genius - Ręczny, przenośny, spektrometr XRF do analizy minerałów, gleby, stopów, RoHS.
EDX Pocket III - Ręczny wszechstronny analizator XRF
EDX 3200S - Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej do oznaczania siarki
EDX 3600B - Spektrometr XRF do analizy minerłów, cementu, stopów, szlaki, RoHS itp.

EDX 3600B – Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej do pełnej analizy pierwiastkowej różnorodnych materiałów                              
                                            Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer




Opis ogólny

EDX 3600B to spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z rozpraszaniem energii. Został zaprojektowany z przeznaczeniem do analizy metali szlachetnych (Au, Ag, Pt, Pd itp.) stali, stopów metali nieżelaznych, rud, minerałów, cementu, oznaczania metali szkodliwych według dyrektywy RoHS i WEEE oraz do pełnych analiz pierwiastkowych. Umożliwia analizy i pomiary 5 warstw powłok galwanicznych i do 11 warstw powłok plazmowych.   

Spektrometr ten został zbudowany z zastosowaniem najlepszej obecnie na rynku lampy rentgenowskiej i równie renomowanego zasilacza wysokiego napięcia. Ich zastosowanie umożliwia wykonywanie analiz zgodnych ze standardami narodowymi i porównywalnych z innymi technologiami i laboratoriami.
Wykorzystanie techniki fluorescencji rentgenowskiej  umożliwia szybkie, dokładne a przy tym łatwe do wykonania analizy i podręczne stosowanie w procesach produkcyjnych.
Urządzenie to jest szczególnie przydatne do analiz w przemyśle jubilerskim, metalurgicznym, w przemyśle wydobywczym rud i minerałów oraz w produkcji materiałów budowlanych.
Analizator daje możliwość dobrania niskoenergetycznego promieniowania rentgenowskiego, co umożliwia dobre pobudzenie lekkich pierwiastków takich jak Si, S, Na i Mg. Ponadto poprawiona została sprawność wykonywania analizy przy krótkich testach.
EDX 3600D charakteryzuje się wysokimi parametrami pomiarowymi; jak liniowość energii, rozdzielczość energetyczna, właściwości detekcji spektrum i wysokim współczynnikiem redukcji tła (UHRD Detektor). Analizy są powtarzalne dzięki mechanizmowi automatycznej stabilizacji spektrum. Zastosowanie detektora UHRD umożliwia także łatwe wydzielenie mierzonego spektrum. Technologia UHRD poprawia precyzję analiz lekkich pierwiastków: Si, S, AL., itp. Dzięki zastosowaniu wieloparametrowej metody regresji liniowej uzyskano redukcję efektów wzajemnej absorpcji i odpychania pierwiastków.
Do wykonywania analiz nie wymagane jest wykształcenie laboratoryjne. Analizy są całkowicie niezależne od operatora. 
 
Profesjonaliści stworzyli wyjątkowo sprawny analizator, którego jakość zdobywa świat. 
     
Charakterystyka budowy analizatora
 
  • System próżniowy uniezależnia analizy od wpływu czynników atmosferycznych i znacznie zwiększa zakres możliwości analitycznych. Komora pomiarowa otwiera się i zamyka po przyciśnięciu jednego przycisku.
  • Zewnętrzna elegancka obudowa kryje wnętrze zbudowane z trwałych i odpornych podzespołów.
  • Automatyczna zmiana kolimatorów i filtrów pierwotnychczyni analizator przyjaznym dla użytkownika.
  • Potrójny system gwarantujący bezpieczeństwo operatora. 
  • Niezależne modele korekcji efektu matrycy.
  • Wieloparametrowa, nieliniowa procedura regresji.
  • Niezależna analiza wzorców i procedura identyfikacyjna.  
Cechy funkcjonalne analizatora
 
  • System SNE (Signal to Noise Enhancement) wielokrotnie zwiększa czułość analizy,
  • Zmiana kolimatorów i filtrów następuje automatycznie dla różnych próbek,
  • Chłodzony elektronicznie detektor krzemowy Si-PIN UHRD (Ultra High Resolution Detektor),
  • Wszechstronne i sprawne oprogramowanie do pełnej analizy wielo pierwiastkowej dorównuje jakością rozwiązaniom sprzętowym.
  • Oprogramowanie aplikacyjne do systemów operacyjnych Windows 2000 i Windows XP.  
Standardowe wyposażenie analizatora:
 
  • System SNE (Signal to Noise Enhancement),
  • System usprawniający ścieżkę światła,
  • Chłodzony elektronicznie detektor wysokiej rozdzielczości Si-PIN UHRD,
  • Wbudowana kamera CCD o rozdzielczości 1,4 mln. pixeli,
  • Automatyczna zmiana kolimatorów
  • Automatyczna zmiana filtrów pierwotnych,
  • Ruchomy stół pomiarowy,
  • Podwyższona czułość analizy metali
 
 
Podstawowe parametry pracy:
 
Napięcie zasilania:                          220V ±5V, 50Hz (zalecany zasilacz stabilizowany)
Pobierana moc:                               200W,
Temperatura otoczenia:                   15ºC - 30ºC,
Wilgotność względna:                      35% - 70% bez kondensacji,
Wymiary komory pomiarowej:           średnica 320mm x wysokość 180mm,
Wymiary urządzenia:                       650mm x 608mm x 466mm
Waga urządzenia:                           75 Kg
 
Standardowe zastosowania analizatora:
 
  • Wykonuje w pełne, wielopierwiastkowe analizy stali, cementu, minerałów, grubości powłok galwanicznych, analizy stopów metali nieżelaznych, oznaczanie metali szlachetnych i oznaczanie pierwiastków szkodliwych według RoHS i WEEE (Cd, Pb, Cr, Hg, Br),
  • Obecnie dostępne jest oprogramowanie standardowe do: analizy metali szlachetnych, pełnej analizy pierwiastkowej, pomiarów grubości powłok galwanicznych, oznaczania pierwiastków szkodliwych zgodnie z dyrektywą RoHS,
 

Specyfikacja techniczna:
Zakres analizowanych pierwiastków: od Na11 do U92
Zakres oznaczania składu: od 1ppm do 99,99%
Możliwość jednoczesnej analizy: 24 pierwiastki
Postać analizowanych próbek: stałe, proszki i płyny
Dokładność analiz: 0,05%
Czas analizy: 60 do 300 sek.
Lampa rentgenowska z anodą wolframową
Si-PIN detektor UHRD
Rozdzielczość energetyczna: 150±5 eV
Napięcie lampy rentgenowskiej: 5 – 50 kV
Prąd pomiaru: 50μA - 1000 μA
Kolimatory do wyboru: Ø8, 6, 4, 3, 2, 1, 0.5, 0.1mm
Pomiary grubości powłok galwanicznych – 5powłok
Dokładność pomiaru grubości powłok: 0,01 -0,05 μm
- Analizy wielowarstwowych powłok plazmowych
 do 11 powłok, każda o grubości do 0,005 μm
 
       

Bezpieczeństwo obsługi
 
Spektrometr EDX 3600B jest wyposażony w dwie osłony chroniące przed promieniowaniem. Zewnętrzna osłona jest wyłożona warstwą ołowiu co gwarantuje całkowitą izolację komory pomiarowej.
W chwili otwarcia osłony zasilacz lampy rentgenowskiej zostaje wyłączony.
Podobnie gdy software nie pracuje poprawnie nie można uruchomić lampy rentgenowskiej.
Po zakończeniu cyklu analizy spektrometr odcina napięcie i prąd lampy rentgenowskiej. Oprócz oczywistego zabezpieczenia funkcja ta znacznie przedłuża czas poprawnej pracy lampy rentgenowskiej.

EDX 3600B - BROSZURA W PDF DO POBRANIA


 
Strona głównaPOWER OPTIMIZER Ekonomizer zuzycia energii elektrycznejWyposażenie testowe galwanizernii, KOCOURSKYRAY Instrument, Przemysłowe spektrometry analityczne XRF - spektrometry fluorescencji rentgenowskiejDostawy blachy i paneli dla przemysłuKontakt Przemysłowe urządzenia pomiarowe