Skyray Instrument Spektrometry XRF pomiarowe i analityczne, Power Optimizer,
Strona główna
POWER OPTIMIZER Ekonomizer zuzycia energii elektrycznej
Wyposażenie testowe galwanizernii, KOCOUR
SKYRAY Instrument, Przemysłowe spektrometry analityczne XRF - spektrometry fluorescencji rentgenowskiej
Dostawy blachy i paneli dla przemysłu
Kontakt
Przemysłowe urządzenia pomiarowe
Płać mniej za energię elektryczną, Spektrometry XRF Skyray Instrument
Skyray Instrument - Spektrometry XRF - Spektrometry fluorescencji rentgenowskiej - do analizy pierwiastkowej - zastosowania
Materiały eksploatacyjne XRF - kubki
Materiały eksploatacyjne - folie uszczelniające
EDX 600 - Spektrometr do do pomiarów grubości prostych powłok i podręcznej analizy złota
EDX 3000 - Spektrometr do pomiarów grubości powłok i analizy metali szlachetnych
Thick 800 - Grubościomierz powłok galwaniczntch
EDX 3600B - Spektrometr XRF do analizy minerłów, cementu, stopów, szlaki, RoHS itp.
EDX 6000B - Spektrometr XRF do szybkiej analizy cementu, minerałów, rud metali, stopów metali i RoHS
EDX 1800B – Uniwersalny spektrometr EDXRF do oznaczania RoHS
EDX Genius - Ręczny, przenośny, spektrometr XRF do analizy minerałów, gleby, stopów, RoHS.
EDX Pocket III - Ręczny wszechstronny analizator XRF
EDX 3200S - Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej do oznaczania siarki
Thick 800 - Grubościomierz powłok galwaniczntch

                                        

 

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z rozpraszaniem energii EDXRF

Opis ogólny
            Thick800 jest efektem wieloletniego doświadczenia firmy Skyray Instrument w dziedzinie nieinwazyjnych, spektrometrycznych pomiarów grubości wszelkich powłok galwanicznych. Urządzenie jest zaprojektowane do pracy automatycznej. Pomiary wykonuje się w komorze pomiarowej ze szklaną osłoną. Pobudzenie rentgenowskie następuje wiązką padającą na próbkę z góry. Oprogramowanie inicjalizuje i kalibruje funkcje pomiarowe, sprawdza poprawność funkcjonowania głównych podzespołów, steruje kamerą CCD umożliwiając podgląd próbki, steruje cyklem pomiaru, umożliwia wykonanie wielu pomiarów próbki w zaprogramowanej kolejności oraz steruje ruchem stołu pomiarowego. Jest to skuteczne urządzenie ze specjalistycznym wszechstronnym oprogramowaniem aplikacyjnym umożliwiającym jednoczesne pomiary grubości do 5 powłok, analizę składu powłok i analizę kąpieli galwanicznych. Jest przeznaczony dla zakładów mechanicznych, galwanizernii i kontroli jakości podzespołów z dostaw kooperacyjnych. Bardzo dobrze spisuje się w analizach i pomiarach grubości metali szlachetnych w branży jubilerskiej i elektronicznej. Opcjonalnie może być wyposażony do analizy pierwiastkowej stopów w zakresie od potasu do uranu oraz do testowania obecności substancji szkodliwych według dyrektywy RoHS.

                             

Podstawowe funkcje oprogramowania do pomiaru grubości powłok

  • Dokonuje detekcji i analizę grubości i składu powłok
  • Analizuje, powłoki jednowarstwowe, wielowarstwowe i stopowe
  • Dokonuje pomiary i analizy do pięciu powłok
  • Łatwo analizuje różne materiały i różne próbki
  • Umożliwia wyznaczenie wielu krzywych kalibracyjnych, każda z wlasnymi parametrami analizy
  • Umożliwia swobodny wybów napięcia i prądu lampy co ułatwia głębszą analizę w próbce określonego pierwiastka
  • Umożliwia porównanie bieżącej analizy z widmem referencyjnym pomiary
  • Dodatkowe funkcje oprogramowania FPThick
  • - wyświeltla wynik pomiaru grubości i składu powłoki jednocześnie
  • - steruje zgrubnym i precyzyjnym ruchem stołu pomiarowego
  • - programuje geometrię serii pomiarów
  • - umożliwia ustawianie punktu pomiaru za pomoc myszki
  • - dodaj lub usuń niepotrzebny punkt pomiaru (usuń dotyczy tylko  ostatniego  punktu)    
  • - wykonuje automatyczne ogniskowanie   
Podstawowe parametry techniczne:
·         Detektor: proporcjonalny 
Możliwość pomiaru i analizy powłok: od Potasu19 do Uranu92
·         Opcjonalnie: detektor Si-PIN
Możliwość pomiaru i analizy pierwiastków: od Sodu Na11 do Uranu U92 
Błąd precyzji pomiaru: 0,05% - 0,1%
·         Powtarzalność pomiarów: > 0,01 μm
·         Stabilność pomiarów: lepsza niż 0,1 μm
·         Napięcie lampy: programowane od 5 do 50 kV
·         Czas pomiaru: 30 sekund
·         Temperatura otoczenia: -20°C –+50°C
·         Wilgotność otoczenia: <71%
·         Napięcie zasilania: 110V AC lub 220V AC
·         Wymiary zewnętrzne: Szerokość 648 x Głębokość 490 x Wysokość 544 (mm)
·         Wymiary komory pomiarowej: 517 x 352 x 150 (mm)

                  

Standardowa dostawa obejmuje:
·         Thick800, Spektrometr EDXRF z detektorem proporcjonalnym  
 
·          Komputer + Monitor 17", System operacyjny WindowsXP R lub Windows 7R
·          Wzorce srebra i miedzi
·          Firmowe oprogramowanie do pomiaru grubości powłok
Wygodne raportowanie pomiarów w stałym formacie i exportowane w formacie pdf
·         12 miesięczną gwarancję


 
Strona głównaPOWER OPTIMIZER Ekonomizer zuzycia energii elektrycznejWyposażenie testowe galwanizernii, KOCOURSKYRAY Instrument, Przemysłowe spektrometry analityczne XRF - spektrometry fluorescencji rentgenowskiejDostawy blachy i paneli dla przemysłuKontakt Przemysłowe urządzenia pomiarowe